维萨拉 K-PATENTS® 半导体行业用折光仪 PR-33-S

适用于半导体液态化学品测量该折光仪外形紧凑,流通池采用改良超纯 PTFE 制成,适用于半导体液态化学品测量。可通过 ¼ 至 1 英寸的皮拉 Pillar 或扩口 Flare 连接。维萨拉 K-PATENTS® 半导体行业用折光仪 PR-33-S 用于晶圆洁净室里的化学品浓度监测,通常被安装在混合、清洗、蚀刻和 (CMP) 等机台上。PR-33-S 包含一个超纯
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适用于半导体液态化学品测量

该折光仪外形紧凑,流通池采用改良超纯 PTFE 制成,适用于半导体液态化学品测量。可通过 ¼ 至 1 英寸的皮拉 Pillar 或扩口 Flare 连接。

维萨拉 K-PATENTS® 半导体行业用折光仪 PR-33-S 用于晶圆洁净室里的化学品浓度监测,通常被安装在混合、清洗、蚀刻和 (CMP) 等机台上。

PR-33-S 包含一个超纯改性 PTFE 流通池主体和一根以太网线,不同标准的以太网供电 (PoE) 开关均可通过以太网线向传感器供电,并将数据传输给计算机。PR-33-S 实时监测化学品浓度,当化学品浓度超出规定范围时,立即通过以太网反馈报警。例如,可通过配置低浓度和高浓度警报来控制和延长溶液使用寿命。这里的浓度通过对溶液折射率 nD 和温度测量来确定。

PR-33-S 直接通过喇叭形或pillar配件进行安装。PR-33-S 结构紧凑,不含金属,体积小。

关键要素:

N.I.S.T. 标准下的可追溯校准及验证,采用标准折射率液体和验证程序进行验证。

光学核心设计。 

通过以太网进行数据记录和远程界面操作。

标准 UDP/IP 通信。

过程温度范围:-20°C – 85°C (-4°F – 185°F)。

内置 Pt1000 快速温度测量及自动温度补偿 。